PT-320

8英寸半自动探针台

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件、光电器件等晶圆级半自动测试。

GT-3000

新一代高性能全自动探针台

适用于8～12英寸集成电路晶圆的全自动探针测试。基于模块化平台设计，可按产品需求选择相应模块定制，配备全自动上下片系统，具有高速、高精度、高刚性的特点；适用于LCD Driver、SOC、Memory、CIS、先进封装等领域晶圆级测试。

FT-3000

12英寸全自动探针台

适用于8～12英寸集成电路晶圆的自动探针测试。兼容wafer圆片和Frame铁环传输测试，配备全自动上下片系统 ，一体化直线电机运动平台，具有高精度、高刚性、高效率、高稳定性的特点。wafer测试与Frame铁环测试切换便利。

PT-930

12英寸全自动探针台

国内首款量产型12英寸高精度全自动探针台，适用于8~12英寸集成电路、分立器件及传感器等晶圆测试

PT-9200

8英寸全自动探针台

适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点；自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

高低温定制系列

高低温全自动探针台

适用于8-12英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点；自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要；面板可翻转，方便维护；搭载大尺寸的磨针台，适应不同的磨针方式，多样化的定制功能