首 页
关于矽电
企业简介
发展历程
企业文化
联系我们
供应商寻源
产品中心
探针台
探针测试一体机
AOI设备
曝光机
分选机
解决方案
自动化测试线
半导体测试解决方案
LED测试解决方案
服务支持
设备定制
质量控制
售后服务
新闻中心
CN
EN
首页
关于矽电
企业简介
发展历程
企业文化
联系我们
供应商寻源
产品中心
探针台
探针测试一体机
AOI设备
曝光机
分选机
解决方案
自动化测试线
半导体测试解决方案
LED测试解决方案
服务支持
设备定制
质量控制
售后服务
新闻中心
语言
English
探针台
探针测试一体机
AOI设备
曝光机
分选机
PT-305
双面半自动探针台
适用于5英寸及以下双向器件自动测试
PT-305
双面半自动探针台
适用于双向分离器件(双向可控硅、TVS等)以及需要正反面双向探针测试的芯片,可满足3、4、5英寸芯片的自动测试
PT-306
6英寸半自动探针台
适用于6英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
PT-306
6英寸半自动探针台
适用于4、5、6英寸集成电路和分立器件的自动测试,搭载 CCD 视觉系统,自动扫描、定位操作,真正做到“一键测试”
PT-308
8英寸半自动探针台
适用于 4~8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要,并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位,还可增配进行高温、高压测试.
PT-308
8英寸半自动探针台
适用于 4~8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要,并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位,还可增配进行高温、高压测试.
PT-308T
8英寸半自动探针台
适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
PT-308T
8英寸半自动探针台
适用于 4~8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要,并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位,还可增配进行高温、高压测试
< 上一页
1
2
共
2页
1
2
GO
18126122405