PT-930

12英寸全自动探针台

国内首款量产型12英寸高精度全自动探针台，适用于8~12英寸集成电路及功率器件等芯片的测试

高低温定制系列

高低温全自动探针台

适用于8-12英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点；自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要；面板可翻转，方便维护；搭载大尺寸的磨针台，适应不同的磨针方式，多样化的定制功能

PT-9200

8英寸全自动探针台

适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点；自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

PT-920B

8英寸全自动探针台

适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足1000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点。自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

PT-903II

8英寸全自动探针台

适用于4～8英寸半导体集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有高可靠性自动上下片系统，高精度CCD视觉定位系统，自动化程度高。更具有薄片传输能力，应用面广，尤其满足大功率分立器件（IGBT、MOSFET）测试

PT-306

6英寸半自动探针台

适用于4、5、6英寸集成电路和分立器件的自动测试，搭载 CCD 视觉系统，自动扫描、定位操作，真正做到“一键测试”

L-11DM-PM

倒装LED测试一体机

采用专利技术的针动机构，搭载先进的驱动方式，高精度的视觉定位系统，测试行程兼容 6 英寸芯片，可完成 4 英寸扩张 1.2 倍晶圆的自动测试

L-10MC-W4

正装LED测试一体机

本设备适用于大圆片抽测或分选后BIN回测工艺段，可满足正装4、6英寸LED 已切割晶圆的自动测试

L-10MC-PM

正装LED测试一体机

本设备适配COT工艺，可满足 4~6 英寸 LED 晶圆及晶粒测试

L-11MC

正装LED测试一体机

应用于芯粒级LED正装芯片全测的多通道针卡测试一体机

L-915

正装LED测试一体机

本设备适配COW、WAT工艺，可满足4~6英寸正装LED未切割晶圆的自动抽测

L-12DM

倒装LED测试一体机

应用于芯粒级LED倒装芯片光电全测的多通道针卡测试一体机

GK-120

全自动曝光机

该机型可按照二极管芯片厂家需求定制，满足4、5、6英寸Wafer的一次曝光

GK-150

全自动曝光机

矽电全新推出的全自动曝光机，可按照二极管芯片厂家工艺设计需求进行定制，满足4寸、5寸晶圆在同一机台上进行一、二、三次光刻的工艺处理需求。批量自动化设计，配备输入、输出料盒各四个；双工位并行满足曝光和对准上片同步 进行。

AS-20

全自动晶圆光学镜检机

适用于 Wafer/Frame 的外观缺陷检测。配置先进的光学系统，搭载多道光组合检测，结合 AI 算法检测模型，可以精确识别晶圆表面常见缺陷。分布式计算系统为检测提供超高算力。

SE-A7

全自动LED芯片分选机

本设备根据芯片测试机获得的光电参数以及外观检测结果进行分类，按照分类结果将芯片绑定到不同BIN承载盘上，可以实现芯片的自动扫描、合档、接续、分类和自动上下料，并生成生产管理所需的数据报表，广泛应用于LED芯片、LED封装体、5G光芯片、PD模组、光敏元件、半导体芯片的分类挑拣