探针测试一体化式设计，测试可靠，精度高
全自动上下片系统，支持双cassette测试
wafer支持平边或Notch两种定位方式
兼容4，6吋的晶圆测试
精准芯粒扫描与自定义测试结合
主动式针压调整技术，针痕控制可靠
快速升降温系统（可选）
测试波段覆盖紫外（UVC/UVB/UVA）、蓝光、绿光、黄光、红光、白光等（可选）
电流源档位1.5A@200V
ESD包含多种规格，具备业内较长的ESD使用寿命.（可选）
支持常规电性参数，光性参数包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED挡位