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8英寸全自动探针台

8英寸全自动探针台

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

8英寸全自动探针台

适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足1000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点。自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

8英寸全自动探针台

8英寸全自动探针台

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

8英寸全自动探针台

适用于4～8英寸半导体集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有高可靠性自动上下片系统，高精度CCD视觉定位系统，自动化程度高。更具有薄片传输能力，应用面广，尤其满足大功率分立器件（IGBT、MOSFET）测试

双面半自动探针台

双面半自动探针台

适用于5英寸及以下双向器件自动测试

双面半自动探针台

适用于双向分离器件（双向可控硅、TVS等）以及需要正反面双向探针测试的芯片，可满足3、4、5英寸芯片的自动测试

6英寸半自动探针台

6英寸半自动探针台

适用于6英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

6英寸半自动探针台

适用于4、5、6英寸集成电路和分立器件的自动测试，搭载 CCD 视觉系统，自动扫描、定位操作，真正做到“一键测试”

8英寸半自动探针台

8英寸半自动探针台

适用于 4～8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要，并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位，还可增配进行高温、高压测试.

8英寸半自动探针台

适用于 4～8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要，并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位，还可增配进行高温、高压测试.

8英寸半自动探针台

8英寸半自动探针台

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

8英寸半自动探针台

适用于 4～8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要，并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位，还可增配进行高温、高压测试

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