CP200
CP200
芯粒测试分选一体机
集芯粒电测分选于一体,支持根据电测结果自动分Bin
支持多种芯粒输入和分选输出方式,包括蓝膜,Tray盘,华夫盒等
标配探针力传感器,支持主动式针压调整
标配4工位高速直驱旋转转盘,支持芯粒拾取,探针电测,芯粒分Bin同步运行
标配独立双头芯粒取放吸嘴,支持吸嘴自动测高,取放软着陆&缓抬,自动失晶检测
标配6套光学镜头,支持芯粒高精度取放和监控
模块化设计,支持客制化芯粒测试分选方案
中英双语人机界面,操作简单便捷
应用领域

适用于单层电容芯片测试分选工艺

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