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8英寸全自动探针台

8英寸全自动探针台

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

8英寸全自动探针台

适用于4～8英寸半导体集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有高可靠性自动上下片系统，高精度CCD视觉定位系统，自动化程度高。更具有薄片传输能力，应用面广，尤其满足大功率分立器件（IGBT、MOSFET）测试

双面半自动探针台

双面半自动探针台

适用于5英寸及以下双向器件自动测试

双面半自动探针台

适用于双向分离器件（双向可控硅、TVS等）以及需要正反面双向探针测试的芯片，可满足3、4、5英寸芯片的自动测试

6英寸半自动探针台

6英寸半自动探针台

适用于6英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

6英寸半自动探针台

适用于4、5、6英寸集成电路和分立器件的自动测试，搭载 CCD 视觉系统，自动扫描、定位操作，真正做到“一键测试”

8英寸半自动探针台

8英寸半自动探针台

适用于 4～8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要，并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位，还可增配进行高温、高压测试.

8英寸半自动探针台

适用于 4～8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要，并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位，还可增配进行高温、高压测试.

8英寸半自动探针台

8英寸半自动探针台

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

8英寸半自动探针台

适用于 4～8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要，并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位，还可增配进行高温、高压测试

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